ΑΠΑΙΤΟΥΜΕΝΑ ΠΡΟΣΟΝΤΑ

ΜΟΝΑΔΕΣ ΒΑΘΜΟΛΟΓΗΣΗΣ Ή ΟΝ/OFF

Πτυχιούχος Φυσικής ή Διπλωματούχος Μηχανικών Επιστήμης Υλικών ή Χημικών Μηχανικών από ΑΕΙ της Ημεδαπής ή Αλλοδαπή

ΟΝ/OFF

Μεταπτυχιακό Δίπλωμα Ειδίκευσης σε Σύγχρονες Τεχνικές Χαρακτηρισμού που σχετίζονται με Ηλεκτρονιακή Μικροσκοπία από ΑΕΙ της Ημεδαπής ή Αλλοδαπή

ΟΝ/OFF

Εμπειρία σε ερευνητικό εργαστήριο τουλάχιστον 3 (τριών) ετών

5 μονάδες/έτος,

ΜΑΧ: 50

ΣΥΝΕΚΤΙΜΩΜΕΝΑ ΠΡΟΣΟΝΤΑ

ΜΟΝΑΔΕΣ ΒΑΘΜΟΛΟΓΗΣΗΣ Ή ΟΝ/OFF

Αγγλικά (βασική/καλή γνώση) σε επίπεδο Β2

ΟΝ/OFF

Ανακοινώσεις (προφορικές ή/και σε μορφή αφίσας) σε εθνικά ή/και διεθνή επιστημονικά συνέδρια

5 μονάδες/ανακοίνωση, ΜΑΧ: 15

Δημοσιεύσεις σε διεθνή περιοδικά με κριτές σε τεχνικές χαρακτηρισμού σε συνάφεια με Ηλεκτρονιακή Μικροσκοπία

10 μονάδες/δημοσίευση, ΜΑΧ: 50