ΑΠΑΙΤΟΥΜΕΝΑ ΠΡΟΣΟΝΤΑ |
ΜΟΝΑΔΕΣ ΒΑΘΜΟΛΟΓΗΣΗΣ Ή ΟΝ/OFF |
Πτυχιούχος Φυσικής ή Διπλωματούχος Μηχανικών Επιστήμης Υλικών ή Χημικών Μηχανικών από ΑΕΙ της Ημεδαπής ή Αλλοδαπή |
ΟΝ/OFF |
Μεταπτυχιακό Δίπλωμα Ειδίκευσης σε Σύγχρονες Τεχνικές Χαρακτηρισμού που σχετίζονται με Ηλεκτρονιακή Μικροσκοπία από ΑΕΙ της Ημεδαπής ή Αλλοδαπή |
ΟΝ/OFF |
Εμπειρία σε ερευνητικό εργαστήριο τουλάχιστον 3 (τριών) ετών |
5 μονάδες/έτος, ΜΑΧ: 50 |
ΣΥΝΕΚΤΙΜΩΜΕΝΑ ΠΡΟΣΟΝΤΑ |
ΜΟΝΑΔΕΣ ΒΑΘΜΟΛΟΓΗΣΗΣ Ή ΟΝ/OFF |
Αγγλικά (βασική/καλή γνώση) σε επίπεδο Β2 |
ΟΝ/OFF |
Ανακοινώσεις (προφορικές ή/και σε μορφή αφίσας) σε εθνικά ή/και διεθνή επιστημονικά συνέδρια |
5 μονάδες/ανακοίνωση, ΜΑΧ: 15 |
Δημοσιεύσεις σε διεθνή περιοδικά με κριτές σε τεχνικές χαρακτηρισμού σε συνάφεια με Ηλεκτρονιακή Μικροσκοπία |
10 μονάδες/δημοσίευση, ΜΑΧ: 50 |
Υποστήριξη της μονάδας Ηλεκτρονιακής Μικροσκοπίας.